Spettrometri a fluorescenza X della serie EDX，Diffusione energeticaXSpettrometro fluorescente a raggiApplicare aRoHS & WEEEAnalisi delle istruzioniMisura dello spessore della pellicola metallica, misura dello spessore del rivestimento industriale, istruzioni sugli alogeniClAnalisi elementareMinerali, analisi della composizione delle materie prime, mezzi magnetici magnetici e semiconduttori e diverse fusioniAnalisi dei componenti di oro e metalli preziosi.
Spettrometri a fluorescenza X della serie EDXCaratteristiche principali
●Analisi della gamma degli elementiS-U

●Intervale di concentrazione degli elementi di analisi 2ppm—100%
●Stabilità continua8OrarioRSD<0.25%
● ROHS/WEEETempo di rilevamento100-120Secondi

●Refrigerazione elettrica importata negli Stati UnitiSi（Pin）Rilevatore

●Raffreddamento elettricoSi（Pin）Rilevatore Area cristallina15mm2Risoluzione<155eV
●Tecnologia del processore di impulsi completamente digitale

●Eccellente rapporto picco-schiena, estremamente alta sensibilità all'analisi delle tracce

● 50KV,50WAutodifesaX-Tubo a raggi

●Tecnologia di commutazione intelligente per filtri compositi

Caratteristiche:

☆Analisi precise del cloro e del piombo nelle vernici

☆IntegrazioneFPlegge,AlphaMetodo di fattori, metodo di fattori di esperienza

☆Collegamento sicuro, design di radiazione in combinazione rigido e morbido

☆Semplice da usare con un solo clic

☆Software intelligente per impostare automaticamente i parametri e selezionare i filtri

☆XProtezione dai raggi

☆Raffreddamento elettronico senza azoto liquido e altri consumabili

Specifiche tecniche